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Si8460/61/62/63
Table 7. Insulation and Safety-Related Specifications
Parameter
Nominal Air Gap (Clearance) 1
Nominal External Tracking (Creepage) 1
Minimum Internal Gap (Internal Clearance)
Tracking Resistance
(Proof Tracking Index)
Erosion Depth
Symbol
L(IO1)
L(IO2)
PTI
ED
Test Condition
IEC60112
Value
NB SOIC-16
3.9 min
3.9 min
0.008
600
0.019
Unit
mm
mm
mm
V RMS
mm
Resistance
(Input-Output) 2
R IO
10 12
?
Capacitance (Input-Output) 2
C IO
f = 1 MHz
2.0
pF
Input
Capacitance 3
C I
4.0
pF
Notes:
1. The values in this table correspond to the nominal creepage and clearance values as detailed in “6. Package Outline:
16-Pin Narrow Body SOIC”. VDE certifies the clearance and creepage limits as 4.7 mm minimum for the NB SOIC-16
package. UL does not impose a clearance and creepage minimum for component level certifications. CSA certifies the
clearance and creepage limits as 3.9 mm minimum for the NB SOIC-16 package.
2. To determine resistance and capacitance, the Si84xx is converted into a 2-terminal device. Pins 1–8 are shorted
together to form the first terminal and pins 9–16 are shorted together to form the second terminal. The parameters are
then measured between these two terminals.
3. Measured from input pin to ground.
Table 8. IEC 60664-1 (VDE 0844 Part 2) Ratings
Parameter
Basic Isolation Group
Installation Classification
Test Condition
Material Group
Rated Mains Voltages < 150 V RMS
Rated Mains Voltages < 300 V RMS
Rated Mains Voltages < 400 V RMS
Rated Mains Voltages < 600 V RMS
Rev. 1.5
Specification
I
I-IV
I-III
I-II
I-II
17
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